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标题
授权日
公开（公告）号
申请日
公开（公告）日
当前申请（专利权）人
发明人
操作

TFT液晶パネルの物性測定方法、及びTFT液晶パネルの物性測定装置
1900-01-01
JPWO2008090786A5
2008-01-16
2011-03-10
株式会社東陽テクニカ | シャープ株式会社
井上勝 | 佐々木邦彦 | 栗原直 | 久米康仁
注释

TFT液晶パネルの物性測定方法、及びTFT液晶パネルの物性測定装置
1900-01-01
JPWO2008090786A1
2008-01-16
2010-05-20
株式会社東陽テクニカ | シャープ株式会社
井上勝 | 佐々木邦彦 | 栗原直 | 久米康仁
注释

TFT液晶パネルの物性測定方法、及びTFT液晶パネルの物性測定装置
1900-01-01
JPWO2008090786A5
2008-01-16
2011-03-10
株式会社東陽テクニカ | シャープ株式会社
井上勝 | 佐々木邦彦 | 栗原直 | 久米康仁
注释

TFT液晶パネルの物性測定方法、及びTFT液晶パネルの物性測定装置
2013-08-30
JP5348751B2
2008-01-16
2013-11-20
株式会社東陽テクニカ | シャープ株式会社
井上勝 | 佐々木邦彦 | 栗原直 | 久米康仁
注释

TFT液晶面板的物理性质测量方法及TFT液晶面板的物理性质测量装置
2014-09-10
CN101589338B
2008-01-16
2014-09-10
东阳特克尼卡株式会社 | 夏普株式会社
井上胜 | 佐佐木邦彦 | 栗原直 | 久米康仁
注释

TFT液晶面板的物理性质测量方法及TFT液晶面板的物理性质测量装置
1900-01-01
CN101589338A
2008-01-16
2009-11-25
东阳特克尼卡株式会社 | 夏普株式会社
井上胜 | 佐佐木邦彦 | 栗原直 | 久米康仁
注释

TFT液晶パネルの物性測定方法、及びTFT液晶パネルの物性測定装置
2013-08-30
JP5348751B2
2008-01-16
2013-11-20
株式会社東陽テクニカ | シャープ株式会社
井上勝 | 佐々木邦彦 | 栗原直 | 久米康仁
注释

液晶表示装置及び配向膜材料
1900-01-01
JP2012242720A
2011-05-23
2012-12-10
株式会社ジャパンディスプレイ
内野正市 | 國松登
注释

液晶显示器件及具有该液晶显示器件的便携式电脑
1900-01-01
CN101097330A
2006-10-11
2008-01-02
乐金显示有限公司
孙南渡 | 金贤基
注释