标题

TFT液晶パネルの物性測定方法、及びTFT液晶パネルの物性測定装置

授权日

1900-01-01

公开（公告）号

JPWO2008090786A1

申请日

2008-01-16

公开（公告）日

2010-05-20

当前申请（专利权）人

株式会社東陽テクニカ | シャープ株式会社

发明人

井上 勝 | 佐々木 邦彦 | 栗原 直 | 久米 康仁

简单同族

CN101589338A | CN101589338B | CN104181711A | CN104181711B | DE112008000244T5 | JP5348751B2 | JPWO2008090786A1 | JPWO2008090786A5 | KR101432338B1 | KR1020090109093A | TW200837373A | TWI356175B | US20090267614A1 | US20110121854A1 | US20120242353A1 | US7893707 | US8212582 | US9158140 | WO2008090786A1

简单同族成员数量

19

简单同族被引用专利总数

13

诉讼案件数

0

法律状态/事件

授权