标题

TFT液晶面板的物理性质测量方法及TFT液晶面板的物理性质测量装置

授权日

2014-09-10

公开（公告）号

CN101589338B

申请日

2008-01-16

公开（公告）日

2014-09-10

当前申请（专利权）人

东阳特克尼卡株式会社 | 夏普株式会社

发明人

井上胜 | 佐佐木邦彦 | 栗原直 | 久米康仁

简单同族

CN101589338A | CN101589338B | CN104181711A | CN104181711B | DE112008000244T5 | JP5348751B2 | JPWO2008090786A1 | JPWO2008090786A5 | KR101432338B1 | KR1020090109093A | TW200837373A | TWI356175B | US20090267614A1 | US20110121854A1 | US20120242353A1 | US7893707 | US8212582 | US9158140 | WO2008090786A1

简单同族成员数量

19

简单同族被引用专利总数

13

诉讼案件数

0

法律状态/事件

授权