标题

검사 방법, 반도체 장치 및 표시 장치

授权日

1900-01-01

公开（公告）号

KR1020040034563A

申请日

2002-08-02

公开（公告）日

2004-04-28

当前申请（专利权）人

소니 주식회사

发明人

오리이토시히코 | 아키모토오사무 | 아베히토시 | 안도나오키

简单同族

CN1232937C | CN1479911A | EP1414005A1 | EP1414005A4 | JP2003043945A | JP2003043945A5 | JP3707404B2 | KR100839808B1 | KR1020040034563A | US20040032278A1 | US20050200377A1 | US7009418 | US7123044 | WO2003019504A1

简单同族成员数量

14

简单同族被引用专利总数

105

诉讼案件数

0

法律状态/事件

未缴年费