超音波探触子、超音波診断装置、半導体センサ

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超音波探触子、超音波診断装置、半導体センサ
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JP2018114042A
申请日

2017-01-17
公开（公告）日

2018-07-26
当前申请（专利权）人

株式会社日立製作所
发明人

吉村保廣 | 佐光暁史 | 山下尚昭 | 永田達也
简单同族

JP2018114042A
简单同族成员数量

1
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

实质审查