一种用于检测高频超声仪器侧向分辨力的成套试件

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一种用于检测高频超声仪器侧向分辨力的成套试件
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

CN110353726A
申请日

2018-04-09
公开（公告）日

2019-10-22
当前申请（专利权）人

中国科学院声学研究所
发明人

牛凤岐 | 朱承纲 | 程洋 | 张迪
简单同族

CN110353726A
简单同族成员数量

1
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

实质审查