标题

EL表示装置の検査方法

授权日

2012-10-19

公开（公告）号

JP5111564B2

申请日

2010-06-08

公开（公告）日

2013-01-09

当前申请（专利权）人

株式会社半導体エネルギー研究所

发明人

宮川 恵介

简单同族

AU2003289260A1 | CN1732501A | CN1732501B | JP2010262302A | JP5110771B2 | JP5111564B2 | JPWO2004061811A1 | JPWO2004061811A5 | US20040246757A1 | US20070040568A1 | US7132842 | US7586324 | WO2004061811A1

简单同族成员数量

13

简单同族被引用专利总数

20

诉讼案件数

0

法律状态/事件

未缴年费