深圳市专利协会--专利数据库

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标题
授权日
公开（公告）号
申请日
公开（公告）日
当前申请（专利权）人
发明人
操作

超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波測定方法
1900-01-01
JP2015051037A5
2013-09-05
2016-10-20
セイコーエプソン株式会社
林正樹 | 加納一幸
注释

超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波測定方法
1900-01-01
JP2015051037A
2013-09-05
2015-03-19
セイコーエプソン株式会社
林正樹 | 加納一幸
注释

超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波測定方法
2017-09-01
JP6197505B2
2013-09-05
2017-09-20
セイコーエプソン株式会社
林正樹 | 加納一幸
注释

校正冶具、画像診断装置及び画像診断装置の校正方法
1900-01-01
JPWO2014049644A1
2012-09-26
2016-08-18
テルモ株式会社
森功
注释

校正冶具、画像診断装置及び画像診断装置の校正方法
2016-04-08
JP5913607B2
2012-09-26
2016-04-27
テルモ株式会社
森功
注释

被検体情報取得装置
2017-10-13
JP6222955B2
2013-03-25
2017-11-01
キヤノン株式会社
海老澤尚史
注释

超音波測定機および超音波測定方法
1900-01-01
JP2015066219A5
2013-09-30
2016-10-13
セイコーエプソン株式会社
厚地呂比奈
注释

超音波測定機および超音波測定方法
1900-01-01
JP2015066219A
2013-09-30
2015-04-13
セイコーエプソン株式会社
厚地呂比奈
注释

被検体情報取得装置
1900-01-01
JP2014184073A
2013-03-25
2014-10-02
キヤノン株式会社
海老澤尚史
注释