深圳市专利协会--专利数据库

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标题
授权日
公开（公告）号
申请日
公开（公告）日
当前申请（专利权）人
发明人
操作

Probe for ultrasonic diagnostic apparatus
1900-01-01
US20160287212A1
2016-06-14
2016-10-06
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
CHOI, JIN YOUNG
注释

Probe for ultrasonic diagnostic apparatus
1900-01-01
US20130150725A1
2012-12-12
2013-06-13
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
CHOI, JIN YOUNG
注释

Probe for ultrasonic diagnostic apparatus
2019-07-02
US10335117
2017-08-24
2019-07-02
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
CHOI, JIN YOUNG
注释

超音波探触子
2016-02-19
JP5885296B2
2012-02-15
2016-03-15
日本電波工業株式会社
那珂洋二
注释

超音波探触子
1900-01-01
JP2013165790A5
2012-02-15
2015-03-26
日本電波工業株式会社
那珂洋二
注释

超音波探触子
1900-01-01
JP2013165790A
2012-02-15
2013-08-29
日本電波工業株式会社
那珂洋二
注释

超音波材料特性測定と画像化のための超音波音響放射力励起
2016-01-15
JP5868419B2
2011-12-02
2016-02-24
コーニンクレッカフィリップスエヌヴェ
フレイザー,ジョンダグラス | ピーターソン,ロイ | ロベール,ジャン‐リュック | シャムダサニ,ヴィジャイ | シエ,ホア
注释

超音波材料特性測定と画像化のための超音波音響放射力励起
1900-01-01
JP2013544614A
2011-12-02
2013-12-19
コーニンクレッカフィリップスエヌヴェ
フレイザー,ジョンダグラス | ピーターソン,ロイ | ロベール,ジャン‐リュック | シャムダサニ,ヴィジャイ | シエ,ホア
注释

3D超音波撮像システム、対応する方法、及び、そのような方法を実施するためのコンピュータプログラム
2018-09-07
JP6396420B2
2014-03-20
2018-09-26
コーニンクレッカフィリップスエヌヴェ
ワチター‐ステールイリナ | ウェイスユルゲン
注释