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标题
授权日
公开(公告)号
申请日
公开(公告)日
当前申请(专利权)人
发明人
操作
Semiconductor Device and Ultrasonic Diagnostic Apparatus Using the Same
1900-01-01
US20120108963A1
2011-10-27
2012-05-03
HITACHI POWER SEMICONDUCTOR DEVICE, LTD.
HARA, KENJI | SAKANO, JUNICHI
注释
利用可跟踪的成像设备和成像工具进行分叉的检测
2015-11-25
CN103118601B
2011-09-09
2015-11-25
皇家飞利浦电子股份有限公司
S·德拉迪 | M·E·巴利 | N·H·巴克 | D·巴比克
注释
利用可跟踪的成像设备和成像工具进行分叉的检测
1900-01-01
CN103118601A
2011-09-09
2013-05-22
皇家飞利浦电子股份有限公司
S·德拉迪 | M·E·巴利 | N·H·巴克 | D·巴比克
注释
超声波诊断装置
2011-06-15
CN101553174B
2007-12-20
2011-06-15
株式会社日立医药
荒井修 | 松村刚
注释
超声波诊断装置
1900-01-01
CN101553174A
2007-12-20
2009-10-07
株式会社日立医药
荒井修 | 松村刚
注释
超音波診断装置及び超音波画像診断方法
1900-01-01
JPWO2005006987A1
2004-07-21
2007-04-12
株式会社日立メディコ
林 哲矢 | 神田 浩 | 荒井 修
注释
超音波診断装置及び超音波画像表示方法
2010-10-22
JP4610011B2
2004-07-21
2011-01-12
株式会社日立メディコ
林 哲矢 | 神田 浩 | 荒井 修
注释
超音波内視鏡
1900-01-01
JP2007236414A5
2006-03-03
2008-10-30
オリンパスメディカルシステムズ株式会社
中里 威晴 | 児玉 啓成
注释
超音波内視鏡
1900-01-01
JP2007236414A
2006-03-03
2007-09-20
オリンパスメディカルシステムズ株式会社
中里 威晴 | 児玉 啓成
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