标题

Method of internal correction in one chip assay and method for measuring test substance using said method

授权日

1900-01-01

公开（公告）号

US20150185213A1

申请日

2013-12-27

公开（公告）日

2015-07-02

当前申请（专利权）人

AISIN SEIKI KABUSHIKI KAISHA | MAG ARRAY, INC.

发明人

MOMIYAMA, MASAYOSHI | YU, HENG

简单同族

JP2015127694A | US20150185213A1

简单同族成员数量

2

简单同族被引用专利总数

3

诉讼案件数

0

法律状态/事件

撤回 | 权利转移