Kit for measuring in vivo mutation frequency at an endogenous gene locus

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Kit for measuring in vivo mutation frequency at an endogenous gene locus
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

US20110027793A1
申请日

2010-10-06
公开（公告）日

2011-02-03
当前申请（专利权）人

LITRON LABORATORIES, LTD.
发明人

DERTINGER, STEPHEN D.
简单同族

US20070274919A1 | US20110027793A1 | US7824874 | US8062860
简单同族成员数量

4
简单同族被引用专利总数

46
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权