放射線皮膚障害誘導遺伝子の発現に基づく測定方法

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放射線皮膚障害誘導遺伝子の発現に基づく測定方法
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JP2006217899A
申请日

2005-02-14
公开（公告）日

2006-08-24
当前申请（专利权）人

独立行政法人放射線医学総合研究所
发明人

小池学 | 小池亜紀 | 潮見友江
简单同族

JP2006217899A
简单同族成员数量

1
简单同族被引用专利总数

4
诉讼案件数

0
法律状态/事件

驳回