金属標識物質を用いた被検物質の測定方法

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金属標識物質を用いた被検物質の測定方法
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JP2013101092A
申请日

2011-11-07
公开（公告）日

2013-05-23
当前申请（专利权）人

高村禅 | 近江みゆき | 株式会社マイクロエミッション
发明人

高村禅 | 浮田芳昭 | グエンホアントン | 近江みゆき | 山本保
简单同族

JP2013101092A
简单同族成员数量

1
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

撤回