标题

親和性検定方法による分析試料検出用の基質をコーティングするための新規な装置および方法

授权日

1900-01-01

公开（公告）号

JP2008539399A

申请日

2006-04-22

公开（公告）日

2008-11-13

当前申请（专利权）人

バイエル·テクノロジー·サービシズ·ゲゼルシヤフト·ミツト·ベシユレンクテル·ハフツング

发明人

シク,エジンハルト | ウテインガー,ドミニク | カロンダー,クラウデイオ

简单同族

AU2006239534A1 | AU2006239534B2 | CA2605750A1 | CN101208599A | CN101208599B | DK1877773T3 | EP1877773A1 | EP1877773B1 | ES2525324T3 | JP2008539399A | JP2008539399A5 | JP5002584B2 | US20090311773A1 | US9050615 | WO2006114249A1

简单同族成员数量

15

简单同族被引用专利总数

14

诉讼案件数

0

法律状态/事件

未缴年费 | 权利转移