超音波探触子の製造方法、超音波探触子、及び超音波診断装置

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超音波探触子の製造方法、超音波探触子、及び超音波診断装置
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JP2014120874A
申请日

2012-12-14
公开（公告）日

2014-06-30
当前申请（专利权）人

株式会社日立製作所
发明人

町田俊太郎 | 佐光暁史 | 竹崎泰一 | 吉村保廣 | 永田達也 | 山下尚昭 | 田中宏樹
简单同族

JP2014120874A | JP6189033B2 | US20150323657A1 | US9964635 | WO2014091951A1
简单同族成员数量

5
简单同族被引用专利总数

14
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权 | 权利转移