标题

内視鏡装置及び内視鏡の偏光素子の劣化検出方法

授权日

1900-01-01

公开（公告）号

JPWO2014057855A1

申请日

2013-10-03

公开（公告）日

2016-09-05

当前申请（专利权）人

オリンパスメディカルシステムズ株式会社

发明人

有吉 大記 | 後野 和弘 | 山崎 健二 | 町田 亮

简单同族

CN103997945A | CN103997945B | EP2767216A1 | EP2767216A4 | JP5526300B1 | JPWO2014057855A1 | US20140204188A1 | US8937652 | WO2014057855A1

简单同族成员数量

9

简单同族被引用专利总数

9

诉讼案件数

0

法律状态/事件

授权 | 权利转移