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文本
图像
标题
パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置
授权日
2008-07-25
公开(公告)号
JP4158848B2
申请日
2001-12-28
公开(公告)日
2008-10-01
当前申请(专利权)人
ビオイ ハイディス テクノロジー カンパニー リミテッド
发明人
崔 教 雲 | 金 永 求 | 李 建 昊
简单同族
JP2002303845A | JP4158848B2 | KR100494685B1 | KR1020020059071A | TWI287653B | US20020085169A1 | US6999153
简单同族成员数量
7
简单同族被引用专利总数
40
诉讼案件数
0
法律状态/事件
授权 | 权利转移
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