초음파 프로브의 음향 특성을 측정하는 시스템 및 방법

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초음파 프로브의 음향 특성을 측정하는 시스템 및 방법
授权日

2011-08-02
公开（公告）号

KR101055475B1
申请日

2008-11-19
公开（公告）日

2011-08-08
当前申请（专利权）人

삼성메디슨 주식회사
发明人

KIM, JIN KI
简单同族

KR101055475B1 | KR1020100056236A | US20100122566A1 | US8215152
简单同族成员数量

4
简单同族被引用专利总数

14
诉讼案件数

0
法律状态/事件

未缴年费