标题

超音波探触子用アタッチメント、超音波検査装置及び超音波検査方法

授权日

2018-06-08

公开（公告）号

JP6347713B2

申请日

2014-10-02

公开（公告）日

2018-06-27

当前申请（专利权）人

三星電子株式会社

发明人

飯嶋 一雄

简单同族

EP3202326A1 | EP3202326A4 | EP3202326B1 | JP2016073352A | JP6347713B2 | KR1020160040126A | US20170290564A1

简单同族成员数量

7

简单同族被引用专利总数

2

诉讼案件数

0

法律状态/事件

授权