超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波画像の処理方法

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超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波画像の処理方法
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JP2014233415A
申请日

2013-05-31
公开（公告）日

2014-12-15
当前申请（专利权）人

セイコーエプソン株式会社
发明人

長谷川英之 | 金井浩 | 鶴野次郎
简单同族

JP2014233415A | JP2014233415A5 | JP6111870B2 | US20140352437A1 | US9465009
简单同族成员数量

5
简单同族被引用专利总数

4
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权