超音波探触子および超音波診断装置

详情

文本

图像

标题

超音波探触子および超音波診断装置
授权日

2018-10-26
公开（公告）号

JP6423543B2
申请日

2016-08-22
公开（公告）日

2018-11-14
当前申请（专利权）人

株式会社日立製作所
发明人

梶山新也 | 中川樹生
简单同族

JP6423543B2 | JPWO2017047329A1 | WO2017047329A1
简单同族成员数量

3
简单同族被引用专利总数

2
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权