超音波測定装置、超音波診断装置及び超音波測定方法

详情

文本

图像

标题

超音波測定装置、超音波診断装置及び超音波測定方法
授权日

2018-09-14
公开（公告）号

JP6398614B2
申请日

2014-10-30
公开（公告）日

2018-10-03
当前申请（专利权）人

セイコーエプソン株式会社
发明人

増田博之
简单同族

JP2016086875A | JP6398614B2 | US10197670 | US20160124082A1
简单同族成员数量

4
简单同族被引用专利总数

4
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权