超音波診断装置及び接触状態判断方法

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超音波診断装置及び接触状態判断方法
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JP2010233609A
申请日

2009-03-30
公开（公告）日

2010-10-21
当前申请（专利权）人

富士フイルム株式会社
发明人

西野智弘 | 田辺剛 | 杉田由紀夫
简单同族

JP2010233609A
简单同族成员数量

1
简单同族被引用专利总数

7
诉讼案件数

0
法律状态/事件

放弃