발명의 명칭 냉각 수단을 구비한 테라헤르츠 검사 장치 및 이를 이용한 저온 테라헤르츠 검사 방법

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발명의 명칭 냉각 수단을 구비한 테라헤르츠 검사 장치 및 이를 이용한 저온 테라헤르츠 검사 방법
授权日

2014-09-24
公开（公告）号

KR101446236B1
申请日

2013-06-13
公开（公告）日

2014-10-01
当前申请（专利权）人

서울시립대학교 산학협력단
发明人

손주혁 | 박재연
简单同族

KR101446236B1
简单同族成员数量

1
简单同族被引用专利总数

1
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权