液晶面板测试模组及液晶面板失效模式分析方法

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液晶面板测试模组及液晶面板失效模式分析方法
授权日

2011-06-15
公开（公告）号

CN101609635B
申请日

2009-07-24
公开（公告）日

2011-06-15
当前申请（专利权）人

友达光电(苏州)有限公司 | 友达光电股份有限公司
发明人

王孝林 | 李春
简单同族

CN101609635A | CN101609635B
简单同族成员数量

2
简单同族被引用专利总数

14
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权