발명의 명칭 유기발광다이오드 패널 검사 방법

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발명의 명칭 유기발광다이오드 패널 검사 방법
授权日

2017-09-11
公开（公告）号

KR101779162B1
申请日

2010-12-31
公开（公告）日

2017-09-19
当前申请（专利权）人

엘지디스플레이 주식회사 | 고려대학교 산학협력단
发明人

박성희 | 김규태 | 장도영 | 강필수
简单同族

KR101779162B1 | KR1020120077791A
简单同族成员数量

2
简单同族被引用专利总数

4
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权