일렉트로루미네센스 표시 장치의 결함 검사 방법 및 결함수정 방법 및 일렉트로루미네센스 표시 장치의 제

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일렉트로루미네센스 표시 장치의 결함 검사 방법 및 결함수정 방법 및 일렉트로루미네센스 표시 장치의 제
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

KR1020080021566A
申请日

2007-09-03
公开（公告）日

2008-03-07
当前申请（专利权）人

산요덴키가부시키가이샤 | 산요 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드
发明人

OGAWA, TAKASHI
简单同族

CN101174376A | JP2008066003A | KR1020080021566A | TW200845808A | US20080057818A1
简单同族成员数量

5
简单同族被引用专利总数

32
诉讼案件数

0
法律状态/事件

驳回