원장단위 검사가 가능한 유기 발광 표시장치 및 모기판과그 검사방법

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원장단위 검사가 가능한 유기 발광 표시장치 및 모기판과그 검사방법
授权日

2007-08-24
公开（公告）号

KR100754140B1
申请日

2005-12-21
公开（公告）日

2007-08-31
当前申请（专利权）人

삼성에스디아이 주식회사
发明人

WONKYU KWAK
简单同族

KR100754140B1 | KR1020070066261A | US20070139312A1 | US8395609
简单同族成员数量

4
简单同族被引用专利总数

30
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权 | 权利转移