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标题
유기 전계발광 표시소자의 불량 검출장치 및 검출방법
授权日
1900-01-01
公开(公告)号
KR1020060102095A
申请日
2005-03-22
公开(公告)日
2006-09-27
当前申请(专利权)人
엘지전자 주식회사
发明人
SHIN, SUNG YOUNG
简单同族
KR1020060102095A
简单同族成员数量
1
简单同族被引用专利总数
0
诉讼案件数
0
法律状态/事件
撤回
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