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标题
유기 전계발광 표시소자의 불량 검출장치 및 검출방법
授权日
2007-03-02
公开(公告)号
KR100692048B1
申请日
2005-04-07
公开(公告)日
2007-03-12
当前申请(专利权)人
엘지전자 주식회사
发明人
SHIN, SUNG YOUNG
简单同族
KR100692048B1 | KR1020060106959A
简单同族成员数量
2
简单同族被引用专利总数
1
诉讼案件数
0
法律状态/事件
放弃
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