标题

Inspection device and inspection method for active matrix panel, and manufacturing method for active matrix organic light emitting diode panel

授权日

1900-01-01

公开（公告）号

US20080117144A1

申请日

2007-10-29

公开（公告）日

2008-05-22

当前申请（专利权）人

INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION

发明人

NAKANO, DAIJU | SAKAQUCHI, YOSHITAMI

简单同族

CN1294421C | CN1573341A | JP2004347749A | JP3760411B2 | US20040246019A1 | US20070075727A1 | US20080117144A1 | US7106089 | US7317326 | US8228269

简单同族成员数量

10

简单同族被引用专利总数

232

诉讼案件数

0

法律状态/事件

未缴年费