封装结构及其制作方法、封装缺陷检测方法、OLED器件和显示装置

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封装结构及其制作方法、封装缺陷检测方法、OLED器件和显示装置
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

CN107946478A
申请日

2017-12-15
公开（公告）日

2018-04-20
当前申请（专利权）人

京东方科技集团股份有限公司 | 北京京东方显示技术有限公司
发明人

任锦宇 | 马国靖 | 王祺
简单同族

CN107946478A | US10600992 | US20190189951A1
简单同族成员数量

3
简单同族被引用专利总数

2
诉讼案件数

0
法律状态/事件

实质审查