基于像素点亮度的OLED面板老化测试发光特性检测方法

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基于像素点亮度的OLED面板老化测试发光特性检测方法
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

CN110428762A
申请日

2019-07-10
公开（公告）日

2019-11-08
当前申请（专利权）人

武汉精立电子技术有限公司 | 武汉精测电子集团股份有限公司
发明人

洪志坤 | 张胜森 | 欧昌东 | 郑增强
简单同族

CN110428762A
简单同族成员数量

1
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

实质审查