• 授权日:1900-01-01
  • 公开(公告)号:US20060279515A1
  • 申请日:2006-07-03
  • 公开(公告)日:2006-12-14
  • 当前申请(专利权)人:BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD.
  • 发明人:HIGASHI, SEIICHIRO
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  • 授权日:2014-04-22
  • 公开(公告)号:US8704747
  • 申请日:2011-04-05
  • 公开(公告)日:2014-04-22
  • 当前申请(专利权)人:BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD.
  • 发明人:HIGASHI, SEIICHIRO
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  • 授权日:2011-04-26
  • 公开(公告)号:US7932886
  • 申请日:2006-07-03
  • 公开(公告)日:2011-04-26
  • 当前申请(专利权)人:BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD.
  • 发明人:HIGASHI, SEIICHIRO
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  • 授权日:1900-01-01
  • 公开(公告)号:US20060262075A1
  • 申请日:2006-07-03
  • 公开(公告)日:2006-11-23
  • 当前申请(专利权)人:BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD.
  • 发明人:HIGASHI, SEIICHIRO
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  • 授权日:1900-01-01
  • 公开(公告)号:US20020057251A1
  • 申请日:2001-12-27
  • 公开(公告)日:2002-05-16
  • 当前申请(专利权)人:BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD.
  • 发明人:HIGASHI, SEIICHIRO
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  • 授权日:1900-01-01
  • 公开(公告)号:US20040179164A1
  • 申请日:2004-03-30
  • 公开(公告)日:2004-09-16
  • 当前申请(专利权)人:SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
  • 发明人:ZHANG, HONGYONG
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  • 授权日:1900-01-01
  • 公开(公告)号:US20090021684A1
  • 申请日:2008-07-01
  • 公开(公告)日:2009-01-22
  • 当前申请(专利权)人:SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
  • 发明人:ZHANG, HONGYONG
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  • 授权日:2012-06-05
  • 公开(公告)号:US8194224
  • 申请日:2011-06-06
  • 公开(公告)日:2012-06-05
  • 当前申请(专利权)人:SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
  • 发明人:ZHANG, HONGYONG
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표시장치
  • 授权日:2002-09-26
  • 公开(公告)号:KR100355940B1
  • 申请日:2001-07-30
  • 公开(公告)日:2002-09-26
  • 当前申请(专利权)人:가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼
  • 发明人:ZHANG, HONGYONG
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