深圳市专利协会--专利数据库

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발명의 명칭 액정표시장치

授权日：1900-01-01
公开(公告)号：KR1020120055890A
申请日：2010-11-24
公开(公告)日：2012-06-01
当前申请(专利权)人：엘지디스플레이 주식회사
发明人：KWON HAK YEOL

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발명의 명칭 액정표시장치

授权日：1900-01-01
公开(公告)号：KR1020170003794A
申请日：2015-06-30
公开(公告)日：2017-01-10
当前申请(专利权)人：엘지디스플레이 주식회사
发明人：조순동 | 박민규

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액정표시장치

授权日：1900-01-01
公开(公告)号：KR1020110044109A
申请日：2009-10-22
公开(公告)日：2011-04-28
当前申请(专利权)人：엘지디스플레이 주식회사
发明人：장지윤 | 박성일 | 진현석 | 손현성

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액정표시장치의 검사장치 및 그의 검사방법

授权日：1900-01-01
公开(公告)号：KR1020110024938A
申请日：2009-09-03
公开(公告)日：2011-03-09
当前申请(专利权)人：엘지디스플레이 주식회사
发明人：변상헌

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반사투과형 액정표시장치 및 그 제조방법

授权日：1900-01-01
公开(公告)号：KR1020100076819A
申请日：2008-12-26
公开(公告)日：2010-07-06
当前申请(专利权)人：엘지디스플레이 주식회사
发明人：KIM,HYUN HO

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발명의 명칭 공통전압 및 캐패시턴스값을 통합 테스트 할 수 있는 액정표시장치의 테스트 장치

授权日：2017-03-28
公开(公告)号：KR101722666B1
申请日：2015-12-08
公开(公告)日：2017-04-03
当前申请(专利权)人：금오공과대학교 산학협력단 | 주식회사 두원테크
发明人：정훈주 | 배동휘

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발명의 명칭 표시패널 및 이를 포함하는 액정표시장치

授权日：1900-01-01
公开(公告)号：KR1020160066118A
申请日：2014-12-01
公开(公告)日：2016-06-10
当前申请(专利权)人：엘지디스플레이 주식회사
发明人：이병현 | 이민직 | 원규식

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액정패널의 검사장치와 그 검사방법

授权日：1900-01-01
公开(公告)号：KR1020110069553A
申请日：2009-12-17
公开(公告)日：2011-06-23
当前申请(专利权)人：엘지디스플레이 주식회사
发明人：우희성 | 정태우 | 이종혁

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횡전계 방식 액정표시장치

授权日：1900-01-01
公开(公告)号：KR1020110073774A
申请日：2009-12-24
公开(公告)日：2011-06-30
当前申请(专利权)人：엘지디스플레이 주식회사
发明人：이재현 | 손현호

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