标题：
엘씨디기판의 셀 결함 검사용 백 라이트 장치
授权日：
2005-02-01
公开(公告)号：
KR200375652Y1
申请日：
2004-11-19
公开(公告)日：
2005-03-11
当前申请(专利权)人：
주식회사 선인나노기술
发明人：
HWANG,JOONSUN
简单同族：
KR200375652Y1
简单同族成员数量：
1
简单同族被引用专利总数：
1
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
期限届满