标题：
Liquid crystal display device and fabricating method thereof comprising monitoring an etch rate by measuring a thickness or resistance of one of the metal samples formed in a dummy area
授权日：
2006-11-07
公开(公告)号：
US7133102
申请日：
2002-11-21
公开(公告)日：
2006-11-07
当前申请(专利权)人：
LG DISPLAY CO., LTD.
发明人：
CHOI, SEUNG KYU | NA, DU HYUN
简单同族：
KR100475112B1 | KR1020030058067A | US20030123007A1 | US7133102
简单同族成员数量：
4
简单同族被引用专利总数：
10
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费 | 权利转移