标题：
Method of internal correction in one chip assay and method for measuring test substance using said method
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
US20150185213A1
申请日：
2013-12-27
公开(公告)日：
2015-07-02
当前申请(专利权)人：
AISIN SEIKI KABUSHIKI KAISHA | MAG ARRAY, INC.
发明人：
MOMIYAMA, MASAYOSHI | YU, HENG
简单同族：
JP2015127694A | US20150185213A1
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
3
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
撤回 | 权利转移