标题：
Device for detecting analyzed object in specimen and method therefor
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
EP2990779A1
申请日：
2014-04-04
公开(公告)日：
2016-03-02
当前申请(专利权)人：
SUGENTECH, INC.
发明人：
YOO, SEUNG BUM | KIM, EUN KYUNG | LEE, DONG GYU | OH, SANG HOON | SOHN, MI JIN
简单同族：
CN105143852A | CN105143852B | EP2990779A1 | EP2990779A4 | KR101562946B1 | KR1020140127150A | US10254232 | US20160084768A1 | WO2014175577A1
简单同族成员数量：
9
简单同族被引用专利总数：
3
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
实质审查 | 权利转移