标题：
放射線皮膚障害誘導遺伝子の発現に基づく測定方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2006217899A
申请日：
2005-02-14
公开(公告)日：
2006-08-24
当前申请(专利权)人：
独立行政法人放射線医学総合研究所
发明人：
小池 学 | 小池 亜紀 | 潮見 友江
简单同族：
JP2006217899A
简单同族成员数量：
1
简单同族被引用专利总数：
4
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
驳回