标题：
アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2002023194A
申请日：
2000-07-10
公开(公告)日：
2002-01-23
当前申请(专利权)人：
シャープ株式会社
发明人：
岡本 隆章 | 入江 勝美
简单同族：
JP2002023194A | JP3669900B2
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
2
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费