标题：
TFT液晶パネルの物性測定方法、及びTFT液晶パネルの物性測定装置
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JPWO2008090786A5
申请日：
2008-01-16
公开(公告)日：
2011-03-10
当前申请(专利权)人：
株式会社東陽テクニカ | シャープ株式会社
发明人：
井上 勝 | 佐々木 邦彦 | 栗原 直 | 久米 康仁
简单同族：
CN101589338A | CN101589338B | CN104181711A | CN104181711B | DE112008000244T5 | JP5348751B2 | JPWO2008090786A1 | JPWO2008090786A5 | KR101432338B1 | KR1020090109093A | TW200837373A | TWI356175B | US20090267614A1 | US20110121854A1 | US20120242353A1 | US7893707 | US8212582 | US9158140 | WO2008090786A1
简单同族成员数量：
19
简单同族被引用专利总数：
13
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权