标题：
초음파 진단 시스템에서 전기적 소자의 특성 측정 장치에서접점의 좌표 입력 방법 및 장치
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
KR1020080044390A
申请日：
2006-11-16
公开(公告)日：
2008-05-21
当前申请(专利权)人：
삼성메디슨 주식회사
发明人：
KIM, CHIL SU
简单同族：
KR1020080044390A
简单同族成员数量：
1
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
撤回