标题：
超音波検査装置およびその製造方法並びに超音波プローブ
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2019216397A
申请日：
2018-06-14
公开(公告)日：
2019-12-19
当前申请(专利权)人：
株式会社日立製作所
发明人：
竹崎 泰一 | 長谷川 浩章 | 町田 俊太郎
简单同族：
JP2019216397A
简单同族成员数量：
1
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
公开