标题：
超音波診断画像におけるひずみ速度分析方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2004514527A
申请日：
2001-11-23
公开(公告)日：
2004-05-20
当前申请(专利权)人：
コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
发明人：
クリトン,アリーネ エル | シェナル,セドリク | ラウンドヒル,デイヴィッド エヌ
简单同族：
AT328539T | DE60120360D1 | DE60120360T2 | EP1255489A1 | EP1255489B1 | JP2004514527A | US20020072674A1 | US6537221 | WO2002045587A1
简单同族成员数量：
9
简单同族被引用专利总数：
204
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
驳回