标题：
液晶面板测试模组及液晶面板失效模式分析方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
CN101609635A
申请日：
2009-07-24
公开(公告)日：
2009-12-23
当前申请(专利权)人：
友达光电(苏州)有限公司 | 友达光电股份有限公司
发明人：
王孝林 | 李春
简单同族：
CN101609635A | CN101609635B
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
14
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权