标题：
Optical image measuring device, optical image measuring program, fundus observation device, and fundus observation program
授权日：
2009-05-27
公开(公告)号：
EP1775545B1
申请日：
2006-10-11
公开(公告)日：
2009-05-27
当前申请(专利权)人：
KABUSHIKI KAISHA TOPCON
发明人：
YASUNO, YOSHIAKI | YATAGAI, TOYOHIKO | FUKUMA, YASUFUMI K. K. TOPCON | TSUKUDA, HISASHI K. K. TOPCON | KIKAWA, TSUTOMU K. K. TOPCON | AOKI, HIROYUKI K. K. TOPCON | FUJIMURA, TAKASHI K. K. TOPCON
简单同族：
AT432457T | CN1947652A | CN1947652B | DE602006006954D1 | EP1775545A2 | EP1775545A3 | EP1775545B1 | JP2007130403A | JP4850495B2 | US20100142780A1 | US7756311
简单同族成员数量：
11
简单同族被引用专利总数：
253
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权