标题：
Test sensor with thin lancet
授权日：
2009-09-23
公开(公告)号：
EP1417929B1
申请日：
2001-07-02
公开(公告)日：
2009-09-23
当前申请(专利权)人：
BAYER CORPORATION
发明人：
WHITSON, ROBERT C.
简单同族：
AT345087T | AT443474T | AU2001054036A1 | AU769306B2 | CA2350313A1 | CA2350313C | DE60124460D1 | DE60124460T2 | DE60140012D1 | DK1174083T3 | DK1417929T3 | EP1174083A2 | EP1174083A3 | EP1174083B1 | EP1417929A2 | EP1417929A3 | EP1417929B1 | EP2100560A1 | EP2100560B1 | EP2275032A2 | EP2275032A3 | EP2275033A2 | EP2275033A3 | ES2276727T3 | ES2331126T3 | JP2002052012A | JP2011120932A | JP4808869B2 | PT1174083E | US20020004196A1 | US6561989
简单同族成员数量：
31
简单同族被引用专利总数：
588
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
权利终止