标题：
Method for detecting artifacts in data
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
EP1706021A1
申请日：
2004-12-08
公开(公告)日：
2006-10-04
当前申请(专利权)人：
ABBOTT LABORATORIES
发明人：
LOWERY, MICHAEL, G. | SHAIN, ERIC, B. | KHALIL, OMAR, S.
简单同族：
CA2553686A1 | EP1706021A1 | US20050165316A1 | US7254425 | WO2005074811A1
简单同族成员数量：
5
简单同族被引用专利总数：
144
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
撤回